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Localization and characterization of simple defects in finite-sized photonic crystals

Auteur
GROBY, Jean-Philippe1 2 ; LESSELIER, Dominique2
[1] Centre de Mathématiques Appliquées, UMR7641 CNRS/École Polytechnique, Route de Saclay, Palaiseau 91128, France
[2] Département de Recherche en Électromagnétisme-Laboratoire des Signaux et Systèmes, UMR8506 (CNRS-Supélec-Univ Paris-Sud), Gif-sur-Yvette 91192, France
Source

Journal of the Optical Society of America. A, Optics, image science, and vision (Print). 2008, Vol 25, Num 1, pp 146-152, 7 p ; ref : 20 ref

ISSN
1084-7529
Domaine scientifique
Electronics; Optics
Editeur
Optical Society of America, Washington, DC
Pays de publication
United States
Type de document
Article
Langue
English
Mot clé (fr)
Algorithme Cristal photonique Diffusion multiple Fonction Green Localisation défaut Problème inverse Réseau diffraction Tomographie optique 4230W 4270Q
Mot clé (en)
Algorithms Photonic crystals Multiple scattering Green function Fault location Inverse problems Diffraction gratings Optical tomography
Classification
Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001B Physique / 001B40 Domaines classiques de la physique (y compris les applications) / 001B40B Optique / 001B40B30 Formation des images et traitement optique / 001B40B30W Reconstruction des images; tomographie optique

Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001B Physique / 001B40 Domaines classiques de la physique (y compris les applications) / 001B40B Optique / 001B40B70 Matériaux optiques / 001B40B70Q Matériaux à bande interdite photonique interdite

Discipline
Physics : optics
Provenance
Inist-CNRS
Base de données
PASCAL
Identifiant INIST
20036474

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