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Optical and magnetic properties of electrochemically doped p- and n-type poly(3-hexylthiophene)

Auteur
ONODA, M; MANDA, Y; MORITA, S; YOSHINO, K
Himeji inst. technology, fac. eng., dep. electrical eng., Himeji Hyogo 671-22, Japan
Source

Japanese journal of applied physics. 1992, Vol 31, Num 7, pp 2265-2271 ; 1 ; ref : 16 ref

CODEN
JJAPA5
ISSN
0021-4922
Domaine scientifique
Crystallography; Optics; Condensed state physics; Physics; Plasma physics
Editeur
Japanese journal of applied physics, Tokyo
Pays de publication
Japan
Type de document
Article
Langue
English
Mot clé (fr)
Absorption optique Bipolaron Bore Fluorure Concentration impureté Conductivité type n Conductivité type p Etude expérimentale Niveau énergie Polaron Polymère dopé Résonance paramagnétique électronique Susceptibilité spin Thiophène dérivé polymère Voltammétrie cyclique
Mot clé (en)
Optical absorption Bipolaron Boron Fluorides Impurity density N type conductivity P type conductivity Experimental study Energy level Polaron Doped polymer Electron paramagnetic resonance Spin susceptibility Thiophene derivative polymer Cyclic voltammetry
Mot clé (es)
Absorción óptica Bipolarón Boro Fluoruro Concentración impureza Conductividad tipo n Conductividad tipo p Estudio experimental Nivel energía Polarón Polímero dopado Resonancia paramagnética electrónica Susceptibilidad spin Tiofeno derivado polímero Voltametría cíclica
Classification
Pascal
001 Sciences exactes et technologie / 001B Physique / 001B70 Etat condense: structure electronique, proprietes electriques, magnetiques et optiques / 001B70H Propriétés optiques, spectroscopie et autres interactions de la matière condensée avec les particules et le rayonnement / 001B70H20 Propriétés optiques des matériaux massifs et des couches minces / 001B70H20C Constantes optiques: indice de réfraction; constante diélectrique complexe; coefficients d'absorption, de réflexion et de transmission; émissivité

Discipline
Physics of condensed state : electronic structure, electrical, magnetic and optical properties
Provenance
Inist-CNRS
Base de données
PASCAL
Identifiant INIST
5457587

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