UNTERSUCHUNGEN ZUR ERMITTLUNG DER URSACHEN DES AUSFALLS VON DIODEN IN EINEM SI-DIODEN-TARGET.
- Other title
- DETERMINATION DES CAUSES DES DEFAUTS DANS LES DIODES D'UNE CIBLE DE DIODES AU SILICIUM (fr)
- Author
- JAGER E; MORAWSKI D; EHWALD KE
VEB. WERK FUER FERNSEHLEKTRONIK 116 BERLIN - Source
- EXPER. TECH. PHYS.; DTSCH.; DA. 1974; VOL. 22; NO 5; PP. 457-462; ABS. ANGL.; BIBL. 1 REF.
- Document type
- Article
- Language
- German
- Keyword (fr)
- TUBE TELEVISION CAMERA VIDICON CIBLE SOLIDE DIODE SILICIUM DEFAUT CRISTALLIN ELECTROMAGNETISME ELECTRONIQUE
- Keyword (en)
- ELECTROMAGNETISM ELECTRONICS
- Keyword (es)
- ELECTROMAGNETISMO ELECTRONICA
- Classification
- Discipline
- Electronics
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- PASCAL7530063907
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
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