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DER EINFLUSS DER INHOMOGENEN SUBSTRATDOTIERUNG AUF DIE STROM-SPANNUNGSKENNLINIE DES MIS-TRANSISTORS.

Other title
L'INFLUENCE DU DOPAGE INHOMOGENE DU SUBSTRAT SUR LA CARACTERISTIQUE COURANT-TENSION DU TRANSISTOR MIS (fr)
Author
FISCHER WJ
ARBEITSSTELLE MOLEKULARELEKTRON., DRESDEN
Source
NACHR.-TECH., ELEKTRON.; DTSCH.; DA. 1975; VOL. 25; NO 12; PP. 473-477; ABS. RUSSE ANGL. FR.; BIBL. 6 REF.
Document type
Article
Language
German
Keyword (fr)
TRANSISTOR EFFET CHAMP TRANSISTOR MIS CARACTERISTIQUE COURANT TENSION SUBSTRAT DOPAGE ANALYSE FONCTIONNEMENT ELECTROMAGNETISME ELECTRONIQUE
Keyword (en)
ELECTROMAGNETISM ELECTRONICS
Keyword (es)
ELECTROMAGNETISMO ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL7630150579

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