ZUM NACHWEIS UND ZUR LOKALISIERUNG VON FEHLERN IN LOGISCHEN SCHALTUNGEN. I
- Other title
- LA DETECTION ET LA LOCALISATION DES DEFAUTS DANS LES CIRCUITS LOGIQUES. I (fr)
- Author
- DIMITROV M
TU SEKT. INFORMATIONSTECH., DRESDEN, DDR - Source
- NACHR.-TECH., ELEKTRON.; DDR; DA. 1978; VOL. 28; NO 3; PP. 107-110
- Document type
- Article
- Language
- German
- Keyword (fr)
- CIRCUIT LOGIQUE PANNE LOCALISATION DETECTION FIABILITE ALGORITHME ESSAI ELECTRONIQUE
- Keyword (en)
- LOGIC CIRCUIT BREAKDOWN LOCALIZATION DETECTION RELIABILITY ALGORITHMS TEST ELECTRONICS
- Keyword (es)
- ELECTRONICA
- Classification
- Discipline
- Electronics
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- PASCAL7930120145
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
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