Búsqueda por clasificación
001B60A16 Electron, ion, and scanning probe microscopy.
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001
Exact sciences and technology.
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001B
Physics
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001B60
Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties. (Ver también 002A03G, 001D10, 001D09, 001D08B, 001B80A40, 001B30F40)
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001B60A
Structure of solids and liquids; crystallography. (Ver también 001B80A30, 001B60H, 001B60D)
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001B60A16
Electron, ion, and scanning probe microscopy.
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001B60A16B Transmission, reflection and scanning electron microscopy(including EBIC).
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001B60A16C Scanning probe microscopy: scanning tunneling, atomic force, scanning optical, magnetic force, etc..
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001B60A16F Field emission- and field-ion microscopy.
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001B60A16M Scanning Auger microscopy, photoelectron microscopy. (Ver también 001B00G78)
Título
- en : Electron, ion, and scanning probe microscopy.
- fr : Microscopies électronique, ionique et en champ proche.
Notación SKOS
001B60A16
En el plan
Pascal Classification Scheme