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001B60A72F Direct observation of dislocations and other defects (etch pits, decoration, electron microscopy, x-ray topography, etc.).

Título

  • en : Direct observation of dislocations and other defects (etch pits, decoration, electron microscopy, x-ray topography, etc.).
  • fr : Observation directe de dislocations et d'autres défauts (par piqûres d'attaque, décoration, microscopie électronique, topographie RX, etc.).

Notación SKOS

001B60A72F

En el plan

Pascal Classification Scheme