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Selection :

Automatisation d'une station de test par faisceau d'électrons : localisation dynamique de défauts

Author
Pelissier, Jean-Luc; Merle, Pierre (Advisor (for a thesis or dissertation))
Université de Montpellier 2, Montpellier, France (Degree-grantor)
Source

Automatisation d'une station de test par faisceau d'électrons : localisation dynamique de défauts. 1987, 96 p., ref : 34 ref

Thesis number
87 MON2 0269
Scientific domain
Composant, signal et système
Document type
Thesis (New Ph.D. thesis)
Language
French
Keyword (fr)
Analyse fonctionnement Circuit VLSI Contrôle automatique Défaillance Faisceau électronique Logiciel Méthode contrôle Traitement donnée Méthode sans contact
Keyword (en)
Operation study VLSI circuit Automatic monitoring Failures Electron beam Software Control method Data processing
Keyword (es)
Análisis funcionamiento Circuito VLSI Control automático Fallo Haz electrónico Logicial Método control Tratamiento datos
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics / 001D03F Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices / 001D03F06 Integrated circuits / 001D03F06A Design. Technologies. Operation analysis. Testing

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
132456

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