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Morphology and photoluminescence studies of electrochemically etched heavily doped p-type GaAs in HF solution

Author
BEJI, L1 ; SFAXI, L2 ; ISMAIL, B2 ; ZGHAL, S3 ; HASSEN, F2 ; MAAREF, H2
[1] Laboratoire de Physique et de Chimie des Interfaces, Faculté des Sciences, 5019 Monastir, Tunisia
[2] Laboratoire de physique des Semiconducteurs, Faculté des Sciences, 5019 Monastir, Tunisia
[3] Laboratoire de physique des Matériaux, Faculté des Sciences, 5019 Monastir, Tunisia
Source

Microelectronics journal. 2003, Vol 34, Num 10, pp 969-974, 6 p ; ref : 28 ref

ISSN
0959-8324
Scientific domain
Electronics
Publisher
Elsevier Science, Oxford
Publication country
United Kingdom
Document type
Article
Language
English
Author keyword
78.20.e 78.30.Hv 78.55.Cr 81.60.Cp Gallium arsenide Electrochemical etching Photoluminescence Quantum confinement
Keyword (fr)
Confinement Effet quantique Figure attaque Gallium arséniure Gravure électrochimique Matériau poreux Microstructure Photoluminescence Semiconducteur type p Traitement surface 8165C As Ga GaAs
Keyword (en)
Confinement Quantum effect Etch pits Gallium arsenides Electrochemical etching Porous materials Microstructure Photoluminescence p-type conductors Surface treatments
Keyword (es)
Efecto cuántico Grabado electroquímico
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B80 Cross-disciplinary physics: materials science; rheology / 001B80A Materials science / 001B80A65 Surface treatments

Discipline
Physics and materials science
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
15160322

Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS

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