Anisotropie des propriétés de transport électrique des systèmes électroniques bidimensionnels induite par des défauts linéaires
- Other title
- Transport properties anisotropy of two-dimensionnal electron gas induced by linear defects (en)
- Author
- Bougrioua, Zahia; Farvacque, J.-L (Advisor (for a thesis or dissertation))
Université de Lille 1, Villeneuve-d'Ascq, France (Degree-grantor) - Source
Anisotropie des propriétés de transport électrique des systèmes électroniques bidimensionnels induite par des défauts linéaires. 1994, 247 p., ref : 137 ref
- Thesis number
- 94 LIL1 0172
- Document type
- Thesis (Engineer's Ph.D. thesis)
- Language
- French
- Keyword (fr)
- Aluminium arséniure Composé binaire Composé ternaire Dislocation Défaut linéaire Effet Hall quantique Effet Shubnikov de Haas Etat défaut Gallium arséniure Hétérostructure Indium arséniure Magnétorésistance Mobilité porteur charge Piégeage Semiconducteur Système 2 dimensions Al As Ga As Ga In As Ga GaAlAs GaAs GaInAs Composé minéral
- Keyword (en)
- Aluminium arsenides Binary compounds Ternary compounds Dislocations Line defects Quantum Hall effect Shubnikov-de Haas effect Defect states Gallium arsenides Heterostructures Indium arsenides Magnetoresistance Carrier mobility Trapping Semiconductor materials Two-dimensional systems Inorganic compounds
- Keyword (es)
- Semiconductor(material)
- Classification
- Pascal
- 001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B70 Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties / 001B70C Electronic structure and electrical properties of surfaces, interfaces, thin films and low-dimensional structures / 001B70C40 Electronic transport in interface structures / 001B70C40K Iii-v semiconductor-to-semiconductor contacts, p-n junctions, and heterojunctions
- Discipline
- Physics of condensed state : electronic structure, electrical, magnetic and optical properties
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- 165478
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
Install on your browser
"O:13:\"PanistOpenUrl\":36:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000idc\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:4:\"book\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1994\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:9:\"Bougrioua\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:5:\"Zahia\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:1:{i:0;s:15:\"Farvacque, J.-L\";}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:4:\"book\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:134:\"Anisotropie des propri\u00e9t\u00e9s de transport \u00e9lectrique des syst\u00e8mes \u00e9lectroniques bidimensionnels induite par des d\u00e9fauts lin\u00e9aires\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:134:\"Anisotropie des propri\u00e9t\u00e9s de transport \u00e9lectrique des syst\u00e8mes \u00e9lectroniques bidimensionnels induite par des d\u00e9fauts lin\u00e9aires\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:3:\"247\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Panist access
"O:12:\"IstexOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:4:\"book\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1994\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:9:\"Bougrioua\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:5:\"Zahia\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:1:{i:0;s:15:\"Farvacque, J.-L\";}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:4:\"book\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:134:\"Anisotropie des propri\u00e9t\u00e9s de transport \u00e9lectrique des syst\u00e8mes \u00e9lectroniques bidimensionnels induite par des d\u00e9fauts lin\u00e9aires\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:134:\"Anisotropie des propri\u00e9t\u00e9s de transport \u00e9lectrique des syst\u00e8mes \u00e9lectroniques bidimensionnels induite par des d\u00e9fauts lin\u00e9aires\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:3:\"247\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Istex access
"O:16:\"EuropePMCOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:4:\"book\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1994\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:9:\"Bougrioua\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:5:\"Zahia\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:1:{i:0;s:15:\"Farvacque, J.-L\";}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:4:\"book\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:134:\"Anisotropie des propri\u00e9t\u00e9s de transport \u00e9lectrique des syst\u00e8mes \u00e9lectroniques bidimensionnels induite par des d\u00e9fauts lin\u00e9aires\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:134:\"Anisotropie des propri\u00e9t\u00e9s de transport \u00e9lectrique des syst\u00e8mes \u00e9lectroniques bidimensionnels induite par des d\u00e9fauts lin\u00e9aires\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:3:\"247\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Europe PubMed Central access
"O:11:\"BaseOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:4:\"book\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1994\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:9:\"Bougrioua\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:5:\"Zahia\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:1:{i:0;s:15:\"Farvacque, J.-L\";}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:4:\"book\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:134:\"Anisotropie des propri\u00e9t\u00e9s de transport \u00e9lectrique des syst\u00e8mes \u00e9lectroniques bidimensionnels induite par des d\u00e9fauts lin\u00e9aires\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:134:\"Anisotropie des propri\u00e9t\u00e9s de transport \u00e9lectrique des syst\u00e8mes \u00e9lectroniques bidimensionnels induite par des d\u00e9fauts lin\u00e9aires\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:3:\"247\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Base Search access
"O:12:\"ArXivOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:4:\"book\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1994\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:9:\"Bougrioua\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:5:\"Zahia\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:1:{i:0;s:15:\"Farvacque, J.-L\";}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:4:\"book\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:134:\"Anisotropie des propri\u00e9t\u00e9s de transport \u00e9lectrique des syst\u00e8mes \u00e9lectroniques bidimensionnels induite par des d\u00e9fauts lin\u00e9aires\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:134:\"Anisotropie des propri\u00e9t\u00e9s de transport \u00e9lectrique des syst\u00e8mes \u00e9lectroniques bidimensionnels induite par des d\u00e9fauts lin\u00e9aires\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:3:\"247\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
arXiv access
