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MICROSCOPIE DE PHOTODÉTACHEMENT DE O- ET F- : MESURE DES AFFINITÉS ÉLECTRONIQUES ET DES DÉPHASAGES PAR IMAGERIE DE FONCTION D'ONDE

Other title
PHOTODETACHMENT MICROSCOPY OF O- AND F- : MEASUREMENT OF ELECTRON AFFINITY AND PHASE BY WAVE FUNCTION IMAGING (en)
Author
Valli, Christophe; Blondel, Christophe (Advisor (for a thesis or dissertation))
Université de Paris 11, Orsay, France (Degree-grantor)
Source

MICROSCOPIE DE PHOTODÉTACHEMENT DE O- ET F- : MESURE DES AFFINITÉS ÉLECTRONIQUES ET DES DÉPHASAGES PAR IMAGERIE DE FONCTION D'ONDE. 1999, 170 p., ref : 45 ref

Thesis number
99 PA11 2282
Document type
Thesis (New Ph.D. thesis)
Language
French
Keyword (fr)
Affinité électronique Etude expérimentale Fluor ion Interférence onde Ion atomique Ion négatif Microscopie électronique Onde électronique Oxygène ion Photodétachement électron F in 1 O in 1
Keyword (en)
Electron affinity Experimental study Fluorine ions Wave interference Atomic ions Negative ions Electron microscopy Electron wave Oxygen ions Electron photodetachment
Keyword (es)
Onda electrónica Fotodesprendimiento electrón
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B00 General / 001B00G Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy / 001B00G78 Electron, positron and ion microscopes, electron diffractometers and related techniques

Pascal
001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B30 Atomic and molecular physics / 001B30C Molecular properties and interactions with photons / 001B30C80 Photon interactions with molecules / 001B30C80E Autoionization, photoionization, and photodetachment

Pacs
0778 Electron, positron, and ion microscopes, electron diffractometers, and related techniques

Pacs
3380E Autoionization, photoionization, and photodetachment

Discipline
Atomic and molecular physics Metrology
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
198261

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