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MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A TRES HAUTE RESOLUTION : STRUCTURE DU CŒUR DES DEFAUTS DANS LE DIAMANT SYNTHETIQUE

Other title
ULTRA-HIGH RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPY : DEFECTS CORE STRUCTURE IN SYNTHETIC DIAMOND (en)
Author
Delclos, Sophie; Dorignac, Dominique (Advisor (for a thesis or dissertation))
Université de Toulouse 3, Toulouse, France (Degree-grantor)
Source

MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A TRES HAUTE RESOLUTION : STRUCTURE DU CŒUR DES DEFAUTS DANS LE DIAMANT SYNTHETIQUE. 1999, 288 p., ref : 200 ref

Thesis number
99 TOU3 0174
Document type
Thesis (New Ph.D. thesis)
Language
French
Keyword (fr)
Couche mince Diamant Dislocation Défaut cristallin Défaut croissance Défaut empilement Dépôt chimique phase vapeur Electron pi Etude expérimentale Haute résolution Image réticulaire Joint macle Macle Microscopie électronique Minéral synthétique Modèle 3 dimensions Simulation numérique Structure défaut C Très haute résolution Non métal
Keyword (en)
Thin films Diamonds Dislocations Crystal defects Growth defect Stacking faults CVD Pi electron Experimental study High-resolution methods Lattice image Twin boundaries Crystal twin Electron microscopy Synthetic mineral Three dimensional model Digital simulation Defect structure Nonmetals
Keyword (es)
Defecto crecimiento Electrón pi Imagen reticular Macla Mineral sintético Modelo 3 dimensiones
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B60 Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties / 001B60H Surfaces and interfaces; thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) / 001B60H55 Thin film structure and morphology / 001B60H55L Defects and impurities: doping, implantation, distribution, concentration, etc

Pacs
6855L Defects and impurities: doping, implantation, distribution, concentration, etc

Discipline
Physics of condensed state : structure, mechanical and thermal properties
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
198618

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