Untersuchung von Defekten auf einer gestuften Ag(111)-Fläche mit einem Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und hochauflösender Elektronenbeugung
- Other title
- Study of defects on a stepped Ag(111) surface by use of a low-temperature scanning tunneling microscope and high-resolution electron diffraction (en)
- Author
- WOLF, J. FRANCISCUS
- Source
Berichte der Kernforschungsanlage Jülich. 1990, Num 2391, 86 p. ; ref : 94 ref
- Publisher
- Zentralbibliothek der Kernforschungsanlage Jülich, Jülich
- Publication country
- Germany
- Document type
- Serial Issue
- Language
- German
- Keyword (fr)
- Argent Couche mince Croissance cristalline Diffraction électron lent Défaut surface Etude expérimentale Face cristalline Gradin Haute résolution Microscopie tunnel balayage Structure surface Surface
- Keyword (en)
- Silver Thin film Crystal growth LEED diffraction Surface defect Experimental study Crystal face Step High resolution Scanning tunneling microscopy Surface structure Surface
- Keyword (es)
- Plata Capa fina Crecimiento cristalino Difracción electrón lenta Defecto superficie Estudio experimental Cara cristal Peldaño Alta resolucion Microscopía túnel barrido Estructura superficie Superficie
- Classification
- Pascal
- 001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B60 Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties / 001B60H Surfaces and interfaces; thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) / 001B60H35 Solid surfaces and solid-solid interfaces / 001B60H35B Surface structure and topography
- Discipline
- Physics of condensed state : structure, mechanical and thermal properties
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- 19898888
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
Install on your browser
"O:13:\"PanistOpenUrl\":36:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000idc\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:147:\"Untersuchung von Defekten auf einer gestuften Ag(111)-Fl\u00e4che mit einem Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und hochaufl\u00f6sender Elektronenbeugung\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:41:\"Berichte der Kernforschungsanlage J\u00fclich\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:26:\"Ber. Kernforsch. anl. J\u00fcl\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1990\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:4:\"2391\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0366-0885\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:4:\"WOLF\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:13:\"J. FRANCISCUS\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:147:\"Untersuchung von Defekten auf einer gestuften Ag(111)-Fl\u00e4che mit einem Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und hochaufl\u00f6sender Elektronenbeugung\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:7:\"J\u00fclich\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:50:\"Zentralbibliothek der Kernforschungsanlage J\u00fclich\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:2:\"86\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Panist access
"O:12:\"IstexOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:147:\"Untersuchung von Defekten auf einer gestuften Ag(111)-Fl\u00e4che mit einem Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und hochaufl\u00f6sender Elektronenbeugung\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:41:\"Berichte der Kernforschungsanlage J\u00fclich\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:26:\"Ber. Kernforsch. anl. J\u00fcl\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1990\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:4:\"2391\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0366-0885\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:4:\"WOLF\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:13:\"J. FRANCISCUS\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:147:\"Untersuchung von Defekten auf einer gestuften Ag(111)-Fl\u00e4che mit einem Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und hochaufl\u00f6sender Elektronenbeugung\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:7:\"J\u00fclich\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:50:\"Zentralbibliothek der Kernforschungsanlage J\u00fclich\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:2:\"86\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Istex access
"O:16:\"EuropePMCOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:147:\"Untersuchung von Defekten auf einer gestuften Ag(111)-Fl\u00e4che mit einem Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und hochaufl\u00f6sender Elektronenbeugung\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:41:\"Berichte der Kernforschungsanlage J\u00fclich\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:26:\"Ber. Kernforsch. anl. J\u00fcl\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1990\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:4:\"2391\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0366-0885\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:4:\"WOLF\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:13:\"J. FRANCISCUS\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:147:\"Untersuchung von Defekten auf einer gestuften Ag(111)-Fl\u00e4che mit einem Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und hochaufl\u00f6sender Elektronenbeugung\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:7:\"J\u00fclich\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:50:\"Zentralbibliothek der Kernforschungsanlage J\u00fclich\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:2:\"86\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Europe PubMed Central access
"O:11:\"BaseOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:147:\"Untersuchung von Defekten auf einer gestuften Ag(111)-Fl\u00e4che mit einem Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und hochaufl\u00f6sender Elektronenbeugung\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:41:\"Berichte der Kernforschungsanlage J\u00fclich\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:26:\"Ber. Kernforsch. anl. J\u00fcl\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1990\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:4:\"2391\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0366-0885\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:4:\"WOLF\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:13:\"J. FRANCISCUS\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:147:\"Untersuchung von Defekten auf einer gestuften Ag(111)-Fl\u00e4che mit einem Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und hochaufl\u00f6sender Elektronenbeugung\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:7:\"J\u00fclich\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:50:\"Zentralbibliothek der Kernforschungsanlage J\u00fclich\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:2:\"86\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Base Search access
"O:12:\"ArXivOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:147:\"Untersuchung von Defekten auf einer gestuften Ag(111)-Fl\u00e4che mit einem Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und hochaufl\u00f6sender Elektronenbeugung\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:41:\"Berichte der Kernforschungsanlage J\u00fclich\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:26:\"Ber. Kernforsch. anl. J\u00fcl\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1990\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:4:\"2391\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0366-0885\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:4:\"WOLF\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:13:\"J. FRANCISCUS\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:147:\"Untersuchung von Defekten auf einer gestuften Ag(111)-Fl\u00e4che mit einem Tieftemperatur-Rastertunnelmikroskop und hochaufl\u00f6sender Elektronenbeugung\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:7:\"J\u00fclich\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:50:\"Zentralbibliothek der Kernforschungsanlage J\u00fclich\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:2:\"86\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
arXiv access
