Anwendung der hochauflösenden Elektronenenergieverlustspektroskopie zum Studium von Halbleiterschicht-systemen
- Other title
- Application of high-resolution electron energy loss spectroscopy to the study of semiconductor layer systems (en)
- Author
- FÖRSTER, A
T.H (Degree-grantor)
Kernforschungsanlage Jülich GmbH, Jülich 5170, Germany - Source
Berichte der Kernforschungsanlage Jülich. Anwendung der hochauflösenden Elektronenenergieverlustspektroskopie zum Studium von Halbleiterschicht-systemen. 1988, Num 2247, 104 p. ; ref : 110 ref
- Publisher
- Zentralbibliothek der Kernforschungsanlage Jülich, Jülich
- Publication country
- Germany
- Document type
- Thesis (Foreign thesis)
- Language
- German
- Keyword (fr)
- Couche multiple Etude expérimentale Haute résolution Semiconducteur Spectre perte énergie électron
- Keyword (en)
- Multiple layer Experimental study High resolution Semiconductor materials Electron energy loss spectrum
- Keyword (es)
- Capa múltiple Estudio experimental Alta resolucion Semiconductor(material) Espectro pérdida energía electrón
- Classification
- Pascal
- 001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B70 Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties / 001B70H Optical properties and condensed-matter spectroscopy and other interactions of matter with particles and radiation / 001B70H70 Other interactions of matter with particles and radiation
- Discipline
- Physics of condensed state : electronic structure, electrical, magnetic and optical properties
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- 19898948
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
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