Sûreté de fonctionnement des systèmes: Étude expérimentale des lois de la fiabilité
- Other title
- Dependability of systems : Experimental study of reliability laws (en)
- Author
- GIRAUD, Marc1
[1] École Française de Radioélectricité, d'Électronique et d'Informatique (EFREI) - Source
Techniques de l'ingénieur. Electronique. 2006, Vol E6, Num E3854 ; E3854.1-E3854.22 ; ref : 3 ref
- ISSN
- 0399-4120
- Scientific domain
- Electronics
- Publisher
- Techniques de l'ingénieur, Paris
- Publication country
- France
- Document type
- Article
- Language
- French
- Keyword (fr)
- Etude théorique Fiabilité Loi probabilité Sûreté fonctionnement Traitement donnée
- Keyword (en)
- Theoretical study Reliability Probability distribution Dependability Data processing
- Keyword (es)
- Estudio teórico Fiabilidad Ley probabilidad Seguridad funcionamiento Tratamiento datos
- Classification
- Pascal
- 001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D04 Telecommunications and information theory / 001D04A Information, signal and communications theory / 001D04A03 Information theory
- Discipline
- Telecommunications and information theory
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- 21688835
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
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"O:13:\"PanistOpenUrl\":36:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000idc\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:89:\"S\u00fbret\u00e9 de fonctionnement des syst\u00e8mes: \u00c9tude exp\u00e9rimentale des lois de la fiabilit\u00e9\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:40:\"Techniques de l'ing\u00e9nieur. Electronique\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:20:\"Tech. ing., Electron\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"2006\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:2:\"E6\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:5:\"E3854\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:16:\"E3854.1-E3854.22\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0399-4120\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:6:\"GIRAUD\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:4:\"Marc\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:89:\"S\u00fbret\u00e9 de fonctionnement des syst\u00e8mes: \u00c9tude exp\u00e9rimentale des lois de la fiabilit\u00e9\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:5:\"Paris\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:26:\"Techniques de l'ing\u00e9nieur\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Panist access
"O:12:\"IstexOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:89:\"S\u00fbret\u00e9 de fonctionnement des syst\u00e8mes: \u00c9tude exp\u00e9rimentale des lois de la fiabilit\u00e9\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:40:\"Techniques de l'ing\u00e9nieur. Electronique\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:20:\"Tech. ing., Electron\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"2006\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:2:\"E6\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:5:\"E3854\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:16:\"E3854.1-E3854.22\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0399-4120\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:6:\"GIRAUD\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:4:\"Marc\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:89:\"S\u00fbret\u00e9 de fonctionnement des syst\u00e8mes: \u00c9tude exp\u00e9rimentale des lois de la fiabilit\u00e9\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:5:\"Paris\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:26:\"Techniques de l'ing\u00e9nieur\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Istex access
"O:16:\"EuropePMCOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:89:\"S\u00fbret\u00e9 de fonctionnement des syst\u00e8mes: \u00c9tude exp\u00e9rimentale des lois de la fiabilit\u00e9\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:40:\"Techniques de l'ing\u00e9nieur. Electronique\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:20:\"Tech. ing., Electron\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"2006\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:2:\"E6\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:5:\"E3854\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:16:\"E3854.1-E3854.22\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0399-4120\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:6:\"GIRAUD\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:4:\"Marc\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:89:\"S\u00fbret\u00e9 de fonctionnement des syst\u00e8mes: \u00c9tude exp\u00e9rimentale des lois de la fiabilit\u00e9\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:5:\"Paris\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:26:\"Techniques de l'ing\u00e9nieur\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Europe PubMed Central access
"O:11:\"BaseOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:89:\"S\u00fbret\u00e9 de fonctionnement des syst\u00e8mes: \u00c9tude exp\u00e9rimentale des lois de la fiabilit\u00e9\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:40:\"Techniques de l'ing\u00e9nieur. Electronique\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:20:\"Tech. ing., Electron\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"2006\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:2:\"E6\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:5:\"E3854\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:16:\"E3854.1-E3854.22\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0399-4120\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:6:\"GIRAUD\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:4:\"Marc\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:89:\"S\u00fbret\u00e9 de fonctionnement des syst\u00e8mes: \u00c9tude exp\u00e9rimentale des lois de la fiabilit\u00e9\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:5:\"Paris\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:26:\"Techniques de l'ing\u00e9nieur\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Base Search access
"O:12:\"ArXivOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:89:\"S\u00fbret\u00e9 de fonctionnement des syst\u00e8mes: \u00c9tude exp\u00e9rimentale des lois de la fiabilit\u00e9\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:40:\"Techniques de l'ing\u00e9nieur. Electronique\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:20:\"Tech. ing., Electron\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"2006\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:2:\"E6\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:5:\"E3854\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:16:\"E3854.1-E3854.22\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0399-4120\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:6:\"GIRAUD\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:4:\"Marc\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:89:\"S\u00fbret\u00e9 de fonctionnement des syst\u00e8mes: \u00c9tude exp\u00e9rimentale des lois de la fiabilit\u00e9\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:5:\"Paris\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:26:\"Techniques de l'ing\u00e9nieur\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
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