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Influence of oxygen concentration and annealing on morphology and electrical properties of semi-insulating polycrystalline silicon

Autor
LOMBARDO, S1 ; CAMPISANO, S. U1 ; BAROETTO, F
[1] Dip. fisica univ., 95129 Catania, Italy
Fuente

Applied physics letters. 1993, Vol 63, Num 4, pp 470-472 ; ref : 20 ref

CODEN
APPLAB
ISSN
0003-6951
Campo Científico
Crystallography; Electronics; Optics; Condensed state physics
Editor
American Institute of Physics, Melville, NY
País de la publicación
United States
Tipo de documento
Article
Idioma
English
Palabra clave (fr)
Composition chimique Conductivité électrique Etude expérimentale Grosseur grain Matériau hétérogène Microstructure Polycristal Recuit thermique Silicium Oxyde Silicium
Palabra clave (in)
Chemical composition Electrical conductivity Experimental study Grain size Heterogeneous material Microstructure Polycrystal Thermal annealing Silicon Oxides Silicon
Palabra clave (es)
Composición química Conductividad eléctrica Estudio experimental Grosor grano Material heterogéneo Microestructura Policristal Recocido térmico Silicio Óxido Silicio
Clasificación
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B70 Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties / 001B70B Electronic transport in condensed matter / 001B70B80 Conductivity of specific materials

Disciplina
Physics of condensed state : electronic structure, electrical, magnetic and optical properties
Procedencia
Inist-CNRS
Base de datos
PASCAL
Identificador INIST
4834154

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