Ein nachgerüstetes Messystem macht den Rundtisch genauer
- Other title
- A retrofilted measuring system makes the circular table more accurate (en)
- Author
- NITSCHE, B
- Source
F & M. Feinwerktechnik, Mikrotechnik, Messtechnik. 1993, Vol 101, Num 9, pp 351-352
- ISSN
- 0944-1018
- Scientific domain
- Electronics; Mechanical engineering
- Publisher
- Hanser, München
- Publication country
- Germany
- Document type
- Article
- Language
- German
- Keyword (fr)
- Assistance ordinateur Astronomie Fraisage Indicateur mesure Mesure angle Planéité Position Précision Réglage Rétroaction Système mesure Table Télescope
- Keyword (en)
- Computer aid Astronomy Milling Measurement indicator Angular measurement Flatness Position Accuracy Adjustment Feedback regulation Measuring system Table Telescope
- Keyword (es)
- Asistencia ordenador Astronomía Fresado Indicador medida Medida ángulo Planeidad Posición Precisión Reglaje Retroacción Sistema medida Mesa Telescopio
- Classification
- Pascal
- 001 Exact sciences and technology / 001E Earth, ocean, space / 001E03 Astronomy / 001E03A Fundamental astronomy and astrophysics. Instrumentation, techniques, and astronomical observations / 001E03A45 Observatories and site testing
- Discipline
- Astronomy
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- 4917876
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
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"O:13:\"PanistOpenUrl\":36:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000idc\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:57:\"Ein nachger\u00fcstetes Messystem macht den Rundtisch genauer\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:49:\"F & M. Feinwerktechnik, Mikrotechnik, Messtechnik\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:35:\"FM, Feinw.tech. Mikrotech. Messtech\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1993\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:3:\"101\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:1:\"9\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:3:\"351\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:3:\"352\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0944-1018\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:7:\"NITSCHE\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:1:\"B\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:57:\"Ein nachger\u00fcstetes Messystem macht den Rundtisch genauer\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:8:\"M\u00fcnchen\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:6:\"Hanser\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Panist access
"O:12:\"IstexOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:57:\"Ein nachger\u00fcstetes Messystem macht den Rundtisch genauer\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:49:\"F & M. Feinwerktechnik, Mikrotechnik, Messtechnik\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:35:\"FM, Feinw.tech. Mikrotech. Messtech\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1993\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:3:\"101\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:1:\"9\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:3:\"351\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:3:\"352\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0944-1018\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:7:\"NITSCHE\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:1:\"B\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:57:\"Ein nachger\u00fcstetes Messystem macht den Rundtisch genauer\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:8:\"M\u00fcnchen\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:6:\"Hanser\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Istex access
"O:16:\"EuropePMCOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:57:\"Ein nachger\u00fcstetes Messystem macht den Rundtisch genauer\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:49:\"F & M. Feinwerktechnik, Mikrotechnik, Messtechnik\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:35:\"FM, Feinw.tech. Mikrotech. Messtech\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1993\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:3:\"101\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:1:\"9\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:3:\"351\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:3:\"352\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0944-1018\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:7:\"NITSCHE\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:1:\"B\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:57:\"Ein nachger\u00fcstetes Messystem macht den Rundtisch genauer\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:8:\"M\u00fcnchen\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:6:\"Hanser\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Europe PubMed Central access
"O:11:\"BaseOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:57:\"Ein nachger\u00fcstetes Messystem macht den Rundtisch genauer\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:49:\"F & M. Feinwerktechnik, Mikrotechnik, Messtechnik\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:35:\"FM, Feinw.tech. Mikrotech. Messtech\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1993\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:3:\"101\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:1:\"9\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:3:\"351\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:3:\"352\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0944-1018\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:7:\"NITSCHE\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:1:\"B\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:57:\"Ein nachger\u00fcstetes Messystem macht den Rundtisch genauer\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:8:\"M\u00fcnchen\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:6:\"Hanser\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Base Search access
"O:12:\"ArXivOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:7:\"journal\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:57:\"Ein nachger\u00fcstetes Messystem macht den Rundtisch genauer\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:49:\"F & M. Feinwerktechnik, Mikrotechnik, Messtechnik\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:35:\"FM, Feinw.tech. Mikrotech. Messtech\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1993\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:3:\"101\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:1:\"9\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:3:\"351\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:3:\"352\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:9:\"0944-1018\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:7:\"NITSCHE\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:1:\"B\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";s:0:\"\";s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:7:\"article\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:57:\"Ein nachger\u00fcstetes Messystem macht den Rundtisch genauer\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:8:\"M\u00fcnchen\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:6:\"Hanser\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
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