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Tunneling and thermal noise as limiting factors in microelectronics

Author
GOSER, K1
[1] Univ. Dortmund, bauelemente elektrotech., Dortmund 4600, Germany
Source

Microelectronics and reliability. 1988, Vol 28, Num 4, pp 605-611 ; ref : 9 ref

CODEN
MCRLAS
ISSN
0026-2714
Scientific domain
Electronics
Publisher
Elsevier, Oxford
Publication country
United Kingdom
Document type
Article
Language
English
Keyword (fr)
Bruit thermique Capacité électrique Circuit intégré Circuit numérique Commutation Configuration géométrique Densité intégration Défaillance Effet tunnel Fiabilité Inductance Montage parallèle Réduction échelle Résistance électrique Simulation Taux erreur Temps réponse Bruit fond
Keyword (en)
Thermal noise Capacitance Integrated circuit Digital circuit Switching Geometrical configuration Integration density Failures Tunnel effect Reliability Inductance Parallel connection Scale reduction Resistor Simulation Error rate Response time
Keyword (es)
Ruido térmico Capacitancia Circuito integrado Circuito numérico Conmutación Configuración geométrica Densidad integración Fallo Efecto túnel Fiabilidad Inductancia Acoplamiento derivación Reducción escala Resistencia eléctrica(componente) Simulación Indice error Tiempo respuesta
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics / 001D03F Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices / 001D03F06 Integrated circuits / 001D03F06A Design. Technologies. Operation analysis. Testing

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
7254366

Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS

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