Etude du joint de grains sigma 9 dans le silicium pafait, déformé et recuit par microscopie électronique à haute résolution
- Other title
- High resolution electron microscopy study of sigma 9 grain boundary in perfect, deformed and annealed silicon (en)
- Author
- EL KAJBAJI, Mohamed; THIBAULT-DESSEAUX, Dir. thèse
Grenoble 1 (Degree-grantor) - Source
Etude du joint de grains sigma 9 dans le silicium pafait, déformé et recuit par microscopie électronique à haute résolution. 1986, 163 p, ref : 69 ref
- Thesis number
- 86 GRE1 0102
- Scientific domain
- Sci. matér
- Document type
- Thesis (New Ph.D. thesis)
- Language
- French
- Keyword (fr)
- Dislocation Déformation plastique Etude expérimentale Haute résolution Interaction Joint grain Microscopie électronique transmission Non métal Précipité Recuit Silicium
- Keyword (en)
- Dislocation Plastic deformation Experimental study High resolution Interaction Grain boundary Transmission electron microscopy Non metal Precipitate Annealing Silicon
- Keyword (es)
- Dislocación Deformación plástica Estudio experimental Alta resolucion Interacción Limite grano Microscopía electrónica transmisión No metal Precipitado Recocido Silicio
- Classification
- Pascal
- 001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B60 Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties / 001B60A Structure of solids and liquids; crystallography / 001B60A72 Defects and impurities in crystals; microstructure / 001B60A72M Grain and twin boundaries
- Discipline
- Physics of condensed state : structure, mechanical and thermal properties
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- 7432088
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