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Contribution à l'étude de la passivation de composants sur arséniure de gallium : caractérisation de films diélectriques réalisés par dépôt en phase vapeur assisté par plasma

Other title
Study of the passivation of gallium arsenide devices through the characterization of plasma deposited dielectric films (en)
Author
MONTPIED, Sylvie; PARISET, Christian
Clermont-Ferrand 2 (Degree-grantor)
Source

Contribution à l'étude de la passivation de composants sur arséniure de gallium : caractérisation de films diélectriques réalisés par dépôt en phase vapeur assisté par plasma. 1986, 199 p, ref : 101 ref

Thesis number
86 CLF2 1020
Scientific domain
Electron
Document type
Thesis (New Ph.D. thesis)
Language
French
Keyword (fr)
Bande interdite Caractéristique dynamique Caractéristique statique Condition opératoire Conductivité électrique Contrôle qualité Couche mince Densité état Dégradation Dépôt chimique phase vapeur Dépôt plasma Effet surface Etat électronique interface Fabrication microélectronique Gallium Arséniure Passivation Performance Piézoélectricité Recuit Silicium Nitrure Silicium Oxyde Tension disruptive Transistor effet champ
Keyword (en)
Energy gap Dynamic characteristic Static characteristic Operating conditions Electrical conductivity Quality control Thin film Density of states Degradation Chemical vapor deposition Plasma deposition Surface effect Interface electron state Microelectronic fabrication Gallium Arsenides Passivation Performance Piezoelectricity Annealing Silicon Nitrides Silicon Oxides Disruptive voltage Field effect transistor
Keyword (es)
Banda prohibida Característica dinámica Característica estática Condición operatoria Conductividad eléctrica Control calidad Capa fina Densidad estado Degradación Depósito químico fase vapor Depósito plasma Efecto superficie Estado electrónico interfase Fabricación microeléctrica Galio Pasivación Rendimiento Piezoelectricidad Recocido Silicio Silicio Voltaje disruptivo Transistor efecto campo
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics / 001D03F Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices / 001D03F17 Microelectronic fabrication (materials and surfaces technology)

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
7476690

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