Pascal and Francis Bibliographic Databases

Help

Export

Selection :

Permanent link
http://pascal-francis.inist.fr/vibad/index.php?action=getRecordDetail&idt=74867

Normes de qualité et métriques de logiciels (Paris la Défense, 30-31 janvier 1997)

Author
AFNOR, Puteaux, France (Organiser of meeting)
Conference name
Normes de qualité et métriques des logiciels. Réunion (Puteaux 1997-01-30)
Source

Normes de qualité et métriques de logiciels (Paris la Défense, 30-31 janvier 1997). 1997, 300 p. ; Illustration ; ref : dissem

Scientific domain
Computer science
Document type
Conference Proceedings
Language
English; French
Keyword (fr)
Conception programme Fiabilité Génie logiciel Métrique Normalisation Performance système Qualité Système informatique
Keyword (en)
Program design Reliability Software engineering Metric Standardization System performance Quality Computer system
Keyword (es)
Concepción programa Fiabilidad Ingeniería logiciel Métrico Normalización Eficacia sistema Calidad Sistema informático
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D00 General aspects / 001D00C Legislation. Standardization

Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D02 Computer science; control theory; systems / 001D02B Software / 001D02B10 Computer systems performance. Reliability

Discipline
Computer science : theoretical automation and systems Economy. Legislation. Training. Society
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
74867

Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS

Searching the Web