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A study of the oxidation of selected metal silicides

Autor
FRAMPTON, R. D1 ; IRENE, E. A; D'HEURLE, F. M
[1] Univ. North Carolina, dep. chemistry, Chapel Hill NC 27514, United States
Fuente

Journal of applied physics. 1987, Vol 62, Num 7, pp 2972-2980 ; ref : 63 ref

CODEN
JAPIAU
ISSN
0021-8979
Campo Científico
Crystallography; Electronics; Optics; Condensed state physics; Physics
Editor
American Institute of Physics, Woodbury, NY
País de la publicación
United States
Tipo de documento
Article
Idioma
English
Palabra clave (fr)
Cinétique Composé minéral Couche mince Ellipsométrie Epaisseur Etude expérimentale Indice réfraction Métal transition Composé Métal transition Siliciure Oxydation Température Traitement surface Support Si
Palabra clave (in)
Kinetics Inorganic compound Thin film Ellipsometry Thickness Experimental study Refraction index Transition metal Compounds Transition metal Silicides Oxidation Temperature Surface treatment
Palabra clave (es)
Cinética Compuesto mineral Capa fina Elipsometría Espesor Estudio experimental Indice refracción Metal transición Metal transición Oxidación Temperatura Tratamiento superficie
Clasificación
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B60 Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties / 001B60H Surfaces and interfaces; thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties) / 001B60H60 Physical properties of thin films, nonelectronic

Disciplina
Physics of condensed state : structure, mechanical and thermal properties
Procedencia
Inist-CNRS
Base de datos
PASCAL
Identificador INIST
7695069

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