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Dielectronic recombination rates for the Be sequence

Author
MCLAUGHLIN, D. J1 ; LAGATTUTA, K. J; HAHN, Y
[1] Univ. Hartford, dep. physics, West Hartford CT 06117, United States
Source

Journal of quantitative spectroscopy & radiative transfer. 1987, Vol 37, Num 1, pp 47-53 ; ref : 18 ref

CODEN
JQSRAE
ISSN
0022-4073
Scientific domain
Atomic molecular physics
Publisher
Elsevier, New York, NY / Elsevier, Oxford
Publication country
United Kingdom
Document type
Article
Language
English
Keyword (fr)
Approximation onde déformée Argon Ion atomique Capture électron Cinétique Collision électron ion Effet Auger Etat Rydberg Etat électronique excité Etude théorique Excitation Fer Ion atomique Interaction configuration Ion multichargé Ion positif Ion très ionisé Oxygène Ion atomique Probabilité transition Recombinaison diélectronique Série isoélectronique Ion 4 électrons
Keyword (en)
Distorted wave approximation Argon Atomic ions Electron capture Kinetics Electron ion collision Auger effect Rydberg state Electronically excited state Theoretical study Excitation Iron Atomic ions Configuration interaction Multicharged ion Positive ion High ionized ion Oxygen Atomic ions Transition probability Dielectronic recombination Isoelectronic sequence
Keyword (es)
Aproximación onda deformada Argón Captura electrón Cinetica Colisión electrón ión Efecto Auger Estado Rydberg Estado electrónico excitado Estudio teórico Excitacion Hierro Interacción configuración Ión multicarga Ión positivo Ión muy ionizado Oxígeno Probabilidad transición Recombinación dielectrónica Serie isoelectrónica
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B30 Atomic and molecular physics / 001B30D Atomic and molecular collision processes and interactions / 001B30D80 Electron scattering

Discipline
Atomic and molecular physics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
8291884

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