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On the analytical methods of line defect and beam direction determinations

Otro titulo
Ueber analytische Methoden der Liniendefekt- und Strahlrichtungsbestimmungen (de)
Autor
DRABIK, W; TORUN, J
ITME. Structure Research Dept
Fuente

Physica status solidi. A. Applied research. 1983, Vol 77, Num 2, pp 513-519 ; ref : 6 ref

CODEN
PSSABA
ISSN
0031-8965
Campo Científico
Crystallography; Electronics; Metallurgy, welding; Condensed state physics
Editor
Wiley-VCH, Berlin
País de la publicación
Germany
Tipo de documento
Article
Idioma
English
Palabra clave (fr)
Assistance ordinateur Direction cristallographique Faisceau électronique Ligne dislocation Microscopie électronique Méthode étude
Palabra clave (in)
Computer aid Computer assistance Crystallographic direction Electron beam Dislocation line Electron microscopy Examination method Investigation method
Palabra clave (de)
Rechnerunterstuetzung Kristallrichtung Elektronenstrahl Versetzungslinie Elektronenmikroskopie Untersuchungsmethode
Clasificación
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B60 Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties / 001B60A Structure of solids and liquids; crystallography / 001B60A72 Defects and impurities in crystals; microstructure / 001B60A72F Direct observation of dislocations and other defects (etch pits, decoration, electron microscopy, x-ray topography, etc.)

Disciplina
Physics of condensed state : structure, mechanical and thermal properties
Procedencia
WELAND
Base de datos
PASCAL
Identificador INIST
9407634

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