Pascal and Francis Bibliographic Databases

Help

Permanent link : http://pascal-francis.inist.fr/vibad/index.php?action=getRecordDetail&idt=PASCAL7314508785

Export

Selection :

DRIFT VELOCITY AND TRAPPING IN SEMICONDUCTORS. TRANSIENT CHARGE TECHNIQUE

Author
MARTINI M; MAYER JW; ZANIO KR
IST. FIS., MODENA, ITALY
Source
APPL. SOLID STATE SCI.; U.S.A.; DA. 1972; VOL. 3; PP. 181-261; BIBL. 4 P.
Document type
Serial Issue
Language
English
Keyword (fr)
MATERIAU SEMICONDUCTEUR PORTEUR CHARGE PIEGEAGE PORTEUR CHARGE VITESSE DERIVE TRANSFERT CHARGE DIELECTRIQUE MOBILITE PORTEUR CHARGE METHODE MESURE ELECTROMAGNETISME ELECTRONIQUE
Keyword (en)
ELECTROMAGNETISM ELECTRONICS
Keyword (es)
ELECTROMAGNETISMO ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL7314508785

Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS

Searching the Web