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http://pascal-francis.inist.fr/vibad/index.php?action=getRecordDetail&idt=PASCAL7314510412

CARACTERISATION PHYSICO-CHIMIQUE DES BARRIERES METAL-SILICIUM, METAL-METAL

Source
DGRST-7172964; FR.; DA. 1971; PP. 1-87; BIBL. 3 P. 1/2; (RAPP. FINAL, ACTION CONCERTEE: COM. CCM)
Document type
Report
Language
French
Keyword (fr)
CONTACT ELECTRIQUE CONTACT OHMIQUE INTERFACE INTERFACE METAL SEMICONDUCTEUR DIODE BARRIERE SCHOTTKY CARACTERISTIQUE PHYSIQUE CARACTERISTIQUE CHIMIQUE INTERFACE METAL METAL BARRIERE POTENTIEL CARACTERISTIQUE FONCTIONNEMENT THEORIE ELECTROMAGNETISME ELECTRONIQUE
Keyword (en)
ELECTROMAGNETISM ELECTRONICS
Keyword (es)
ELECTROMAGNETISMO ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL7314510412

Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS

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