DIE RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE, EINE ERGAENZENDE METHODE ZUR UNTERSUCHUNG VON GIPSEN
- Other title
- LA MICROSCOPIE ELECTRONIQUE A BALAYAGE, UNE METHODE COMPLEMENTAIRE POUR L'EXAMEN DES PLATRES (fr)
- Author
- KNAUF AN; KRONERT W; HAUBERT P
SIERSBURG/SAAR - Source
- ZEMENT-KALK-GIPS; DTSCH.; DA. 1972; VOL. 25; NO 11; PP. 546-552; ABS. ANGL. FR.; BIBL. 6 REF.
- Document type
- Serial Issue
- Language
- German
- Keyword (fr)
- PLATRE MICROSTRUCTURE MICROSCOPIE ELECTRONIQUE INDUSTRIE CHIMIQUE
- Keyword (en)
- CHEMICAL INDUSTRY
- Keyword (es)
- INDUSTRIA QUIMICA
- Classification
- Discipline
- Chemical engineering
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- PASCAL7388005857
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
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