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CARACTERISTIQUES D'UNE SOURCE D'IONS POSITIFS H.F. PLONGEE DANS UN CHAMP MAGNETIQUE AUXILIAIRE.

Author
GESSIN G
LAB. PHYS. ELECTRON., UNIV. PAUL-SABATIER, TOULOUSE
Source
INDUSTR. ATOM. SPATIALES; SUISSE; DA. 1974; VOL. 18; NO 6; PP. 8-18; BIBL. 17 REF.; MEME DOC. ANGL
Document type
Article
Language
English; French
Keyword (fr)
SOURCE ION ION POSITIF DECHARGE HAUTE FREQUENCE CHAMP MAGNETIQUE CHAMP TRANSVERSAL ANALYSE FONCTIONNEMENT ELECTROMAGNETISME ELECTRONIQUE
Keyword (en)
ELECTROMAGNETISM ELECTRONICS
Keyword (es)
ELECTROMAGNETISMO ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL7530008622

Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS

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