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UNTERSUCHUNGEN ZUR ERMITTLUNG DER URSACHEN DES AUSFALLS VON DIODEN IN EINEM SI-DIODEN-TARGET.

Other title
DETERMINATION DES CAUSES DES DEFAUTS DANS LES DIODES D'UNE CIBLE DE DIODES AU SILICIUM (fr)
Author
JAGER E; MORAWSKI D; EHWALD KE
VEB. WERK FUER FERNSEHLEKTRONIK 116 BERLIN
Source
EXPER. TECH. PHYS.; DTSCH.; DA. 1974; VOL. 22; NO 5; PP. 457-462; ABS. ANGL.; BIBL. 1 REF.
Document type
Article
Language
German
Keyword (fr)
TUBE TELEVISION CAMERA VIDICON CIBLE SOLIDE DIODE SILICIUM DEFAUT CRISTALLIN ELECTROMAGNETISME ELECTRONIQUE
Keyword (en)
ELECTROMAGNETISM ELECTRONICS
Keyword (es)
ELECTROMAGNETISMO ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL7530063907

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