CARACTERISATION PAR MESURES ELECTRIQUES ET MICROANALYSE NUCLEAIRE DE LA DEGRADATION DE SEMICONDUCTEURS AMORPHES EN COUCHES MINCES LIEE A LA DIFFUSION DES ELECTRODES.
- Author
- MARSAUD S
- Source
- VILLEURBANNE; INST. PHYS. NUCL.; DA. 1976; PP. 1-61; BIBL. 3 P.; (THESE DOCT. 3EME CYCLE PHYS., PHYS. NUCL., OPTION CHIM. NUCL.; CLAUDE BERNARD LYON I)
- Document type
- Thesis
- Language
- French
- Keyword (fr)
- DISPOSITIF SEMICONDUCTEUR DISPOSITIF AMORPHE DISPOSITIF ETAT SOLIDE VERRE TELLURE CONTACT OHMIQUE OR ELECTRODE DIFFUSION CONTACT ELECTRIQUE ETAT AMORPHE THERMODIFFUSION DIFFUSION THERMIQUE ELECTROMAGNETISME ELECTRONIQUE
- Keyword (en)
- SEMICONDUCTOR DEVICE AMORPHOUS DEVICE SOLID STATE DEVICE GLASS TELLURIUM OHMIC CONTACT GOLD ELECTRODES DIFFUSION ELECTRIC CONTACT AMORPHOUS STATE THERMODIFFUSION THERMAL DIFFUSION ELECTROMAGNETISM ELECTRONICS
- Keyword (es)
- ELECTROMAGNETISMO ELECTRONICA
- Classification
- Discipline
- Electronics
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- PASCAL7730142347
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
Install on your browser
"O:13:\"PanistOpenUrl\":36:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000idc\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:4:\"book\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1976\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:7:\"MARSAUD\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:1:\"S\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";N;s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";N;s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:4:\"book\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:165:\"CARACTERISATION PAR MESURES ELECTRIQUES ET MICROANALYSE NUCLEAIRE DE LA DEGRADATION DE SEMICONDUCTEURS AMORPHES EN COUCHES MINCES LIEE A LA DIFFUSION DES ELECTRODES.\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:165:\"CARACTERISATION PAR MESURES ELECTRIQUES ET MICROANALYSE NUCLEAIRE DE LA DEGRADATION DE SEMICONDUCTEURS AMORPHES EN COUCHES MINCES LIEE A LA DIFFUSION DES ELECTRODES.\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Panist access
"O:12:\"IstexOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:4:\"book\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1976\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:7:\"MARSAUD\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:1:\"S\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";N;s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";N;s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:4:\"book\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:165:\"CARACTERISATION PAR MESURES ELECTRIQUES ET MICROANALYSE NUCLEAIRE DE LA DEGRADATION DE SEMICONDUCTEURS AMORPHES EN COUCHES MINCES LIEE A LA DIFFUSION DES ELECTRODES.\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:165:\"CARACTERISATION PAR MESURES ELECTRIQUES ET MICROANALYSE NUCLEAIRE DE LA DEGRADATION DE SEMICONDUCTEURS AMORPHES EN COUCHES MINCES LIEE A LA DIFFUSION DES ELECTRODES.\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Istex access
"O:16:\"EuropePMCOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:4:\"book\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1976\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:7:\"MARSAUD\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:1:\"S\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";N;s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";N;s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:4:\"book\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:165:\"CARACTERISATION PAR MESURES ELECTRIQUES ET MICROANALYSE NUCLEAIRE DE LA DEGRADATION DE SEMICONDUCTEURS AMORPHES EN COUCHES MINCES LIEE A LA DIFFUSION DES ELECTRODES.\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:165:\"CARACTERISATION PAR MESURES ELECTRIQUES ET MICROANALYSE NUCLEAIRE DE LA DEGRADATION DE SEMICONDUCTEURS AMORPHES EN COUCHES MINCES LIEE A LA DIFFUSION DES ELECTRODES.\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Europe PubMed Central access
"O:11:\"BaseOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:4:\"book\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1976\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:7:\"MARSAUD\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:1:\"S\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";N;s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";N;s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:4:\"book\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:165:\"CARACTERISATION PAR MESURES ELECTRIQUES ET MICROANALYSE NUCLEAIRE DE LA DEGRADATION DE SEMICONDUCTEURS AMORPHES EN COUCHES MINCES LIEE A LA DIFFUSION DES ELECTRODES.\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:165:\"CARACTERISATION PAR MESURES ELECTRIQUES ET MICROANALYSE NUCLEAIRE DE LA DEGRADATION DE SEMICONDUCTEURS AMORPHES EN COUCHES MINCES LIEE A LA DIFFUSION DES ELECTRODES.\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
Base Search access
"O:12:\"ArXivOpenUrl\":35:{s:10:\"\u0000*\u0000openUrl\";N;s:6:\"\u0000*\u0000fmt\";s:4:\"book\";s:6:\"\u0000*\u0000doi\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pii\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000pmid\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000atitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000jtitle\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000stitle\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000date\";s:4:\"1976\";s:9:\"\u0000*\u0000volume\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000issue\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000spage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000epage\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000pages\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000issn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000eissn\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000aulast\";s:7:\"MARSAUD\";s:10:\"\u0000*\u0000aufirst\";s:1:\"S\";s:9:\"\u0000*\u0000auinit\";N;s:10:\"\u0000*\u0000auinitm\";N;s:5:\"\u0000*\u0000au\";a:0:{}s:9:\"\u0000*\u0000aucorp\";s:0:\"\";s:7:\"\u0000*\u0000isbn\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000coden\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000genre\";s:4:\"book\";s:7:\"\u0000*\u0000part\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000btitle\";s:165:\"CARACTERISATION PAR MESURES ELECTRIQUES ET MICROANALYSE NUCLEAIRE DE LA DEGRADATION DE SEMICONDUCTEURS AMORPHES EN COUCHES MINCES LIEE A LA DIFFUSION DES ELECTRODES.\";s:8:\"\u0000*\u0000title\";s:165:\"CARACTERISATION PAR MESURES ELECTRIQUES ET MICROANALYSE NUCLEAIRE DE LA DEGRADATION DE SEMICONDUCTEURS AMORPHES EN COUCHES MINCES LIEE A LA DIFFUSION DES ELECTRODES.\";s:8:\"\u0000*\u0000place\";s:0:\"\";s:6:\"\u0000*\u0000pub\";s:0:\"\";s:10:\"\u0000*\u0000edition\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000tpages\";s:0:\"\";s:9:\"\u0000*\u0000series\";s:0:\"\";s:8:\"\u0000*\u0000proxy\";s:30:\"http:\/\/proxyout.inist.fr:8080\/\";s:12:\"\u0000*\u0000integrite\";b:1;}"
arXiv access
