BEMERKUNGEN ZU "EIN IN ZWEITER NAEHERUNG BILDFEHLERFREIES ENERGIEFILTER FUER ELEKTRONENMIKROSKOPE".
- Other title
- REMARQUE SUR "FILTRE D'ENERGIE POUR LES MICROSCOPES ELECTRONIQUES SANS ABERRATIONS DU SECOND ORDRE" (fr)
- Author
- PLIES E; ROSE H
MAX-PLANK-INST. BIOCHEM., D-8033 MARTINSRIED B. MUENCHEN - Source
- OPTIK; DTSCH.; DA. 1977; VOL. 47; NO 3; PP. 365-368; ABS. ANGL.; BIBL. 17 REF.
- Document type
- Article
- Language
- German
- Keyword (fr)
- MICROSCOPIE ELECTRONIQUE OPTIQUE ELECTRONIQUE ABERRATION OPTIQUE CORRECTION CHAMP FUITE ELECTROMAGNETISME ELECTRONIQUE
- Keyword (en)
- ELECTRON MICROSCOPY ELECTRON OPTICS OPTICAL ABERRATION CORRECTIONS LEAKAGE FLUX ELECTROMAGNETISM ELECTRONICS
- Keyword (es)
- ELECTROMAGNETISMO ELECTRONICA
- Classification
- Discipline
- Electronics
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- PASCAL7730261036
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
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