CARACTERISATION PAR UNE TECHNIQUE MICRO-ONDE D'UN SEMI-CONDUCTEUR SOUMIS A UNE INJECTION PHOTONIQUE.
- Author
- DORIO P; ORGERET M
CENT. NATL. ETUD. SPAT., 31055 TOULOUSE - Source
- CENTRE NATION. ET. SPATIALES, NOTE TECH.; FR.; DA. 1977; NO 69; PP. 1-56; ABS. ANGL.; BIBL. 6 REF.
- Document type
- Serial Issue
- Language
- French
- Keyword (fr)
- MATERIAU SEMICONDUCTEUR HYPERFREQUENCE PORTEUR CHARGE MESURE SIMULATION MATHEMATIQUE APPROXIMATION EXCITATION IR DIFFUSION PORTEUR CHARGE DUREE VIE RECOMBINAISON PORTEUR CHARGE ECLAIREMENT ELECTROMAGNETISME ELECTRONIQUE
- Keyword (en)
- MICROWAVE CHARGE CARRIER MEASUREMENT MATHEMATICAL MODELLING APPROXIMATION INFRARED EXCITATION CHARGE CARRIER SCATTERING LIFETIME CHARGE CARRIER RECOMBINATION ELECTROMAGNETISM ELECTRONICS
- Keyword (es)
- ELECTROMAGNETISMO ELECTRONICA
- Classification
- Discipline
- Electronics
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- PASCAL7730289868
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