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ZUM DYNAMISCHEN FEHLER DES STATISCHEN ZWEIZELLEN-FOTOELEKTRISCHEN MIKROSKOPS FEM AUF GRUND ENDLICHER OBERER GRENZFREQUENZ.

Other title
ERREUR DYNAMIQUE DE 2 MICROSCOPES PHOTOELECTRIQUES DUE A LA FREQUENCE LIMITE SUPERIEURE (fr)
Author
LOFFLER R
SEKT. TECHNOL., FRIEDRICH-SCHILLER-UNIV. JENA
Source
WISSENSCH. Z. FRIEDRICH-SCHILLER-UNIV. JENA, MATH.-NATURWISSENSCH. REIHE; DTSCH.; DA. 1976; VOL. 25; NO 5; PP. 691-698; ABS. RUSSE ANGL.; BIBL. 6 REF.
Document type
Article
Language
German
Keyword (fr)
MICROSCOPIE OPTIQUE MICROSCOPE MESURE DISPOSITIF PHOTOELECTRIQUE ERREUR MESURE METROLOGIE PHYSIQUE THEORIQUE
Keyword (en)
OPTICAL MICROSCOPY MEASUREMENT MICROSCOPE PHOTOELECTRIC CELL MEASUREMENT ERROR MEASUREMENT SCIENCE THEORETICAL PHYSICS
Keyword (es)
METROLOGIA FISICA TEORICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001B Physics

Discipline
Theoretical physics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL7730317034

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