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ZUM EINFLUSS DES PRIMAERIONENSTRAHLPROFILS BEI DER MONOLAGENANALYSE MITTELS DER METHODE SIMS

Other title
INFLUENCE DU PROFIL DU FAISCEAU IONIQUE PRIMAIRE AU COURS DE L'ANALYSE DE MONOCOUCHES PAR LA METHODE SIMS (fr)
Author
STORBECK F
TECH. UNIV. DRESDEN, SEKT. PHYS., D.D.R.-8027 DRESDEN
Source
KRISTALL U. TECH.; DDR; DA. 1978; VOL. 13; NO 3; PP. 331-341; ABS. ANGL.; BIBL. 7 REF.
Document type
Article
Language
German
Keyword (fr)
ANALYSE SURFACE SPECTROMETRIE SIMS ETUDE THEORIQUE ACIER AU CHROME NICKEL OXYDATION COUCHE SUPERFICIELLE ANALYSE QUANTITATIVE SPECTROMETRIE PARTICULE CHARGEE ANALYSE CHIMIQUE SURFACE ACIER CHROME NICKEL METALLURGIE ELECTRONIQUE
Keyword (en)
SURFACE ANALYSIS SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY THEORETICAL STUDY OXIDATION SURFACE FILM QUANTITATIVE ANALYSIS CHARGED PARTICLE SPECTROMETRY CHEMICAL ANALYSIS CHEMICAL COMPOSITION SURFACE METALLURGY ELECTRONICS
Keyword (es)
METALURGIA ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D11 Metals. Metallurgy

Discipline
Electronics Metals. Metallurgy
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL7900071056

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