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ZUM NACHWEIS UND ZUR LOKALISIERUNG VON FEHLERN IN LOGISCHEN SCHALTUNGEN. I

Other title
LA DETECTION ET LA LOCALISATION DES DEFAUTS DANS LES CIRCUITS LOGIQUES. I (fr)
Author
DIMITROV M
TU SEKT. INFORMATIONSTECH., DRESDEN, DDR
Source
NACHR.-TECH., ELEKTRON.; DDR; DA. 1978; VOL. 28; NO 3; PP. 107-110
Document type
Article
Language
German
Keyword (fr)
CIRCUIT LOGIQUE PANNE LOCALISATION DETECTION FIABILITE ALGORITHME ESSAI ELECTRONIQUE
Keyword (en)
LOGIC CIRCUIT BREAKDOWN LOCALIZATION DETECTION RELIABILITY ALGORITHMS TEST ELECTRONICS
Keyword (es)
ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL7930120145

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