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ZUM NACHWEIS UND ZUR LOKALISIERUNG VON FEHLERN IN LOGISCHEN SCHALTUNGEN. II

Other title
LA DETECTION ET LA LOCALISATION DES DEFAUTS DANS LES CIRCUITS LOGIQUES. II (fr)
Author
DIMITROV M
TU DRESDEN SEKT. INFORMATIONSTECH., DDR
Source
NACHR.-TECH., ELEKTRON.; DDR; DA. 1978; VOL. 28; NO 5; PP. 207-210; BIBL. 78 REF.
Document type
Article
Language
German
Keyword (fr)
PANNE LOCALISATION DETECTION CIRCUIT LOGIQUE FIABILITE CIRCUIT SEQUENTIEL ELECTRONIQUE
Keyword (en)
BREAKDOWN LOCALIZATION DETECTION LOGIC CIRCUIT RELIABILITY SEQUENTIAL CIRCUIT ELECTRONICS
Keyword (es)
ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL7930120146

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