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ETUDE PAR MICROANALYSE AUX RAYONS X DES MIGRATIONS D'ARGENT DANS AG2TE

Author
BERNEDE JC; TREGUET Y
UER PHYS. LAB. PHYS. METAL, NANTES 44072, FRA
Source
REV. PHYS. APPL.; FRA; DA. 1979; VOL. 14; NO 4; PP. 551-553; ABS. ENG; BIBL. 8 REF.
Document type
Article
Language
French
Keyword (fr)
STRUCTURE COMPOSEE STRUCTURE METAL MATERIAU AMORPHE METAL MICROANALYSE RAYON X ION METALLIQUE COMMUTATION AUTODIFFUSION COMPOSE METAL TRANSITION TELLURURE ARGENT MIGRATION DIFFUSION ARGENT ELECTRONIQUE
Keyword (en)
COMPOUNDED STRUCTURE METAL AMORPHOUS METAL STRUCTURE MICROANALYSIS X-RAYS METAL ION SWITCHING SELF DIFFUSION MIGRATION ELECTRONICS
Keyword (es)
ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL7930316563

Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS

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