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TIPS UND EINFACHE HILFSMITTEL ZUR FEHLERSUCHE IN MU P- UND ROM-SCHALTUNGEN

Other title
MOYENS SIMPLES DE RECHERCHER DES DEFAUTS DANS LES CIRCUITS A MICROPROCESSEURS ET A MEMOIRE ROM (fr)
Author
FEGER O
Source
ELEKTRONIK; DEU; DA. 1979; VOL. 28; NO 13; PP. 81-82; BIBL. 1 REF.
Document type
Article
Language
German
Keyword (fr)
MEMOIRE MEMOIRE MORTE MICROPROCESSEUR PANNE DETECTION CIRCUIT LOGIQUE ELECTRONIQUE
Keyword (en)
MEMORY READ ONLY MEMORY(ROM) MICROPROCESSOR BREAKDOWN DETECTION LOGIC CIRCUIT ELECTRONICS
Keyword (es)
ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL7930475725

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