CALCUL DE L'INFLUENCE DES DIFFUSIONS INELASTIQUES SUR LE CONTRASTE DES IMAGES DE DEFAUTS D'EMPILEMENT EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE
- Author
- PEYRE H; DUVAL P; HENRY L
UNIV. PARIS-SUD LAB. PHYS. SOLIDES, ORSAY 91405, FRA - Source
- J. PHYS.; FRA; DA. 1979; VOL. 40; NO 5; PP. 489-494; ABS. ENG; BIBL. 13 REF.
- Document type
- Article
- Language
- French
- Keyword (fr)
- DEFAUT EMPILEMENT CONTRASTE MICROSCOPIE ELECTRONIQUE MICROSCOPE TRANSMISSION MONOCRISTAL DIFFUSION INELASTIQUE SILICIUM METALLOIDE CRISTALLOGRAPHIE
- Keyword (en)
- STACKING FAULT CONTRAST ELECTRON MICROSCOPY TRANSMISSION MICROSCOPE SINGLE CRYSTAL INELASTIC SCATTERING SILICON CRISTALLOGRAPHY
- Keyword (es)
- CRISTALOGRAFIA
- Classification
- Pascal
- 001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B60 Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties / 001B60A Structure of solids and liquids; crystallography
- Discipline
- Physics of condensed state : structure, mechanical and thermal properties
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- PASCAL7940451781
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