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DER EINFLUSS VON MATRIX-EFFEKTEN AUF DIE QUANTITATIVE ANALYSE DURCH ESCA-MESSUNGEN

Other title
L'INFLUENCE DES EFFETS MATRICIELS SUR L'ANALYSE QUANTITATIVE PAR SPECTROMETRIE DE PHOTOELECTRONS PAR RAYONS X (fr)
Author
FREUND HJ; GONSKA H; POLASCHEGG HD
UNIV. KOELN, LEHRSTUHL THEOR. CHEM.,KOELN,DEU
Source
VAKUUM-TECH.; DEU; DA. 1979; VOL. 28; NO 7; PP. 200-203; ABS. ENG/FRE; BIBL. 7 REF.
Document type
Article
Language
German
Keyword (fr)
SPECTROMETRIE PARTICULE CHARGEE SPECTROMETRIE PHOTOELECTRON RAYON X OR ARGENT ALLIAGE OR ALLIAGE ARGENT ELECTRONIQUE
Keyword (en)
CHARGED PARTICLE SPECTROMETRY PHOTOELECTRON SPECTROMETRY X-RAYS GOLD SILVER ELECTRONICS
Keyword (es)
ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL8030063367

Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS

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