CARACTERISATION DES NIVEAUX PIEGES DANS LES JONCTIONS GRADUELLES P+NSI TRES DOPEES AU OU PT
- Author
- OUALID J; GERVAIS J; JERISIAN R; LAUER A; MARTINUZZI S
FAC. SCI. TECH. MARSEILLE-ST. JEROME, LAB. PHOTOELECTR.,MARSEILLE 13397,FRA - Source
- REV. PHYS. APPL.; ISSN 0035-1687; FRA; DA. 1980; VOL. 15; NO 1; PP. 25-31; ABS. ENG; BIBL. 22 REF.
- Document type
- Article
- Language
- French
- Keyword (fr)
- CENTRE ACCEPTEUR CENTRE DONNEUR NIVEAU IMPURETE JONCTION JONCTION GRADUELLE JONCTION P+ N SILICIUM DOPAGE IMPURETE OR IMPURETE PLATINE IMPURETE PHOSPHORE PHYSIQUE SOLIDE ELECTRONIQUE
- Keyword (en)
- ACCEPTOR CENTER DONOR CENTER IMPURITY LEVEL JUNCTION P+ N JUNCTION SILICON DOPING SOLID PHYSICS ELECTRONICS
- Keyword (es)
- FISICA DEL ESTADO CONDENSADO ELECTRONICA
- Classification
- Pascal
- 001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B60 Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties
- Discipline
- Electronics Physics of condensed state : structure, mechanical and thermal properties
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- PASCAL8030435841
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
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