ANALYSE VON GLAESERN, OXIDEN UND KONZENTRATIONSPROFILEN IN OBERFLAECHEN MIT DEN VON HOCHENERGETISCHEN PROJEKTILIONEN AUSGELOESTEN SEKUNDAERIONEN (SIMS), PHOTONEN (IBSCA, SCANIIR) SOWIE MIT REFLEKTIERTEN PROJEKTILIONEN (LEISS, HEISS)
- Other title
- ANALYSE DES VERRES, D'OXYDES ET DE PROFILS DE CONCENTRATION A LA SURFACE ET DANS LES REVETEMENTS DE SURFACE A L'AIDE D'IONS DE HAUTE ENERGIE PRODUITS PAR DES IONS SECONDAIRES (SIMS) PHOTONS (IBSCA, SCANIIR) ET DES IONS INCIDENTS REFLECHIS (LEISS, HEISS) (fr)
- Author
- BACH H
JENAER GLASWERK SCHOTT & GEN.,MAINZ,DEU - Source
- GLASTECH. BER.; DEU; DA. 1980; VOL. 53; NO 3; PP. 58-62; ABS. ENG/FRE; BIBL. 1 REF.
- Document type
- Article
- Language
- German
- Keyword (fr)
- VERRE ANALYSE SURFACE SPECTROMETRIE MASSE SPECTROMETRIE SIMS SPECTROMETRIE DIFFUSION ION ANALYSE CHIMIQUE SPECTROMETRIE ION INDUSTRIE CHIMIQUE
- Keyword (en)
- GLASS SURFACE ANALYSIS MASS SPECTROMETRY MASS SPECTROSCOPY SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY CHEMICAL ANALYSIS CHEMICAL COMPOSITION ION SPECTROMETRY CHEMICAL INDUSTRY
- Keyword (es)
- INDUSTRIA QUIMICA
- Classification
- Discipline
- Chemical engineering
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- PASCAL8060301581
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
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