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ANALYSE VON GLAESERN, OXIDEN UND KONZENTRATIONSPROFILEN IN OBERFLAECHEN MIT DEN VON HOCHENERGETISCHEN PROJEKTILIONEN AUSGELOESTEN SEKUNDAERIONEN (SIMS), PHOTONEN (IBSCA, SCANIIR) SOWIE MIT REFLEKTIERTEN PROJEKTILIONEN (LEISS, HEISS)

Other title
ANALYSE DES VERRES, D'OXYDES ET DE PROFILS DE CONCENTRATION A LA SURFACE ET DANS LES REVETEMENTS DE SURFACE A L'AIDE D'IONS DE HAUTE ENERGIE PRODUITS PAR DES IONS SECONDAIRES (SIMS) PHOTONS (IBSCA, SCANIIR) ET DES IONS INCIDENTS REFLECHIS (LEISS, HEISS) (fr)
Author
BACH H
JENAER GLASWERK SCHOTT & GEN.,MAINZ,DEU
Source
GLASTECH. BER.; DEU; DA. 1980; VOL. 53; NO 3; PP. 58-62; ABS. ENG/FRE; BIBL. 1 REF.
Document type
Article
Language
German
Keyword (fr)
VERRE ANALYSE SURFACE SPECTROMETRIE MASSE SPECTROMETRIE SIMS SPECTROMETRIE DIFFUSION ION ANALYSE CHIMIQUE SPECTROMETRIE ION INDUSTRIE CHIMIQUE
Keyword (en)
GLASS SURFACE ANALYSIS MASS SPECTROMETRY MASS SPECTROSCOPY SECONDARY ION MASS SPECTROMETRY CHEMICAL ANALYSIS CHEMICAL COMPOSITION ION SPECTROMETRY CHEMICAL INDUSTRY
Keyword (es)
INDUSTRIA QUIMICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D07 Chemical engineering

Discipline
Chemical engineering
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL8060301581

Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS

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