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SCHNELLES BESTIMMEN DES THERMISCHEN WIDERSTANDES VON HALBLEITERBAUELEMENTEN

Other title
DETERMINATION RAPIDE DE LA RESISTANCE THERMIQUE DES COMPOSANTS A SEMI-CONDUCTEURS (fr)
Author
POEHLMANN B
Source
ELEKTRONIK (MUENCH.); ISSN 0013-5658; DEU; DA. 1980; VOL. 29; NO 22; PP. 125-127
Document type
Article
Language
German
Keyword (fr)
DISPOSITIF ETAT SOLIDE DISPOSITIF SEMICONDUCTEUR RESISTANCE THERMIQUE DUREE VIE ELECTRONIQUE
Keyword (en)
SOLID STATE DEVICE SEMICONDUCTOR DEVICE THERMAL RESISTANCE LIFETIME ELECTRONICS
Keyword (es)
ELECTRONICA
Classification
Pascal
001 Exact sciences and technology / 001D Applied sciences / 001D03 Electronics

Discipline
Electronics
Origin
Inist-CNRS
Database
PASCAL
INIST identifier
PASCAL8130262392

Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS

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