ANALYSE DER STROM-SPANNUNGS-KENNLINIEN SPEZIELLER SILIZIUM-FOTODIODEN IM BEREICH KLEINER FLUSSPANNUNGEN
- Other title
- ANALYSE DES CARACTERISTIQUES COURANT TENSION DE PHOTODIODES AU SILICIUM SPECIALES DANS LE DOMAINE DES FAIBLES TENSIONS DIRECTES (fr)
- Author
- HARTMANN JD
VEB WERK FUER FERNSEHELEKTRONIK BERLIN/BERLIN 1160/DDR - Source
- EXP. TECH. PHYS.; ISSN 0014-4924; DDR; DA. 1980; VOL. 28; NO 4; PP. 347-356; ABS. ENG; BIBL. 11 REF.
- Document type
- Article
- Language
- German
- Keyword (fr)
- DISPOSITIF PHOTOELECTRIQUE CARACTERISTIQUE COURANT TENSION SILICIUM TENSION DIRECTE ELECTRONIQUE
- Keyword (en)
- PHOTOELECTRIC CELL VOLTAGE CURRENT CURVE SILICON ELECTRONICS
- Keyword (es)
- ELECTRONICA
- Classification
- Discipline
- Electronics
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- PASCAL8130370118
Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
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