CARACTERISATION DES MATERIAUX SEMICONDUCTEURS PAR PHOTOABSORPTION TRANSITOIRE D'UNE ONDE INFRAROUGE
- Other title
- CARACTERIZATION OF SEMICONDUCTING MATERIALS BY TRANSIENT PHOTOABSORPTION OF IR RADIATION (en)
- Author
- FARAH JOSEPH
- Source
- FRA; DA. 1982; 147 P.; 30 CM; BIBL. 32 REF.; TH. 3E CYCLE: ELECTRON. ELECTROTECH. AUTOM./TOULOUSE 3/1982/2672
- Document type
- Thesis
- Language
- French
- Keyword (fr)
- ABSORPTION IR PHENOMENE TRANSITOIRE DUREE VIE PORTEUR LIBRE METHODE MESURE INJECTION PORTEUR CHARGE PAIRE ELECTRON TROU SILICIUM GALLIUM ARSENIURE GERMANIUM PHYSIQUE SOLIDE
- Keyword (en)
- INFRARED ABSORPTION TRANSIENTS LIFETIME FREE CARRIER MEASUREMENT METHOD CHARGE CARRIER INJECTION ELECTRON HOLE PAIR SOLID PHYSICS
- Keyword (es)
- FISICA DEL ESTADO CONDENSADO
- Classification
- Pascal
- 001 Exact sciences and technology / 001B Physics / 001B60 Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties
- Discipline
- Physics of condensed state : structure, mechanical and thermal properties
- Origin
- Inist-CNRS
- Database
- PASCAL
- INIST identifier
- PASCAL83X0031756
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