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A MICROELECTRONIC TEST PATTERN FOR MEASURING UNIFORMITY OF AN INTEGRATED CIRCUIT FABRICATION TECHNOLOGYRUSSELL TJ; MAXWELL DB; REIMANN CT et al.1979; SOLID STATE TECHNOL.; USA; DA. 1979; VOL. 22; NO 2; PP. 71-74; BIBL. 8 REF.Article

LED-ANSTEUERUNG MIT TTL-SCHALTUNGEN = LA COMMANDE DE DIODES ELECTROLUMINESCENTES PAR DES CIRCUITS INTEGRES TTLTURINSKY G.1978; RADIO FERNSEHEN ELEKTRON.; DDR; DA. 1978; VOL. 27; NO 6; PP. 394-395; BIBL. 2 REF.Article

REALISIERUNG VON WALSH-FUNKTIONSGENERATOREN MIT TTL- UND MOS-SCHALTUNGEN = REALISATION DEGENERATEUR DE FONCTIONS DE WALSH AU MOYEN DE CIRCUITS TTL ET MOSSCARBATA G.1978; RADIO FERNSEHEN ELEKTRON.; DDR; DA. 1978; VOL. 27; NO 2; PP. 117-119; BIBL. 3 REF.Article

EINE TTL-BAUSTEINBIBLIOTHEK ALS UNTERPROGRAMMPAKET FUER DAS PROGRAMMSYSTEMS DASIS-403 ZUR ANALYSE BINAERER SCHALTNETZWERKE. = UNE BIBLIOTHEQUE DE COMPOSANTS TTL COMME PAQUET DE SOUS-PROGRAMME DU SYSTEME DE PROGRAMMATION DASIS-403 POUR L'ANALYSE DES RESEAUX DE CIRCUITS BINAIRESSIMON FU; REICHERT T.1977; NACHR.-TECH., ELEKTRON.; DTSCH.; DA. 1977; VOL. 27; NO 2; PP. 58-60; BIBL. 3 REF.Article

TD-TTL CRYSTAL OSCILLATORVASILJEVIC DM.1983; INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS THEORETICAL & EXPERIMENTAL; ISSN 0020-7217; GBR; DA. 1983; VOL. 54; NO 2; PP. 365-367; BIBL. 5 REF.Article