PHYTOMETICAL JOURNALS AND SERIES - AN ANALYSISBARTELS W.1979; QUART-BULL. INTERNATION. ASS. AGRIC. LIBRARIANS DOCUMENTALISTS; NLD; DA. 1979; VOL. 24; NO 1; PP. 8-13; BIBL. 12 REF.Article

MEHR DEUTSCHES ERDGAS UND ERDOEL. = DAVANTAGE DE PETROLE ET DE GAZ NATUREL ALLEMANDSBARTELS W.1975; BEB-MOSAIK; DTSCH.; DA. 1975; NO 3; PP. 4Article

ZUR MIKROWELLENDIAGNOSTIK DER RAUSCHTEMPERATUR UND DER TRAEGERDICHTE EINES NEONPLASMAS IM UEBERGANGSBEREICH ZWISCHEN DER FREIFALL- UND DIFFUSIONSBESTIMMTEN SAEULE = DIAGNOSTIC HYPERFREQUENCE DE LA TEMPERATURE DE BRUIT ET DE LA DENSITE DES PORTEURS D'UN PLASMA DE NEON DANS LA REGION DE TRANSITION ENTRE LA COLONNE EN CHUTE LIBRE ET LA COLONNE CONTROLEE PAR DIFFUSIONGUNDERMANN S; BARTELS W.1981; BEITR. PLASMAPHYS.; ISSN 0005-8025; DDR; DA. 1981; VOL. 21; NO 6; PP. 403-410; ABS. ENG; BIBL. 23 REF.Article

ZUR BESTIMMUNG VON LADUNGSTRAEGERDICHTEPROFILEN MIT HILFE DER MIKROWELLEN-RESONATORMETHODE = EVALUATION DES PROFILS DE DENSITE DES PORTEURS DE CHARGES A L'AIDE DE RESONATEURS MICROONDESBARTELS W; GUNDERMANN S.1979; EXPER. TECH. PHYS.; DDR; DA. 1979; VOL. 27; NO 3; PP. 217-224; ABS. ENG; BIBL. 11 REF.Article

High-resolution X-ray diffractometerBARTELS, W. J.Philips technical review. 1983, Vol 41, Num 6, pp 183-185, issn 0031-7926Article

MIKROWELLENDIAGNOSTIK DER RAUSCHTEMPERATUR IM STICKSTOFFPLASMA DER SCHWACHSTROMSAEULE = DIAGNOSTIC HYPERFREQUENCE DE LA TEMPERATURE DE BRUIT DANS LE PLASMA D'AZOTE D'UNE COLONNE DE DECHARGE A COURANT FAIBLEBARTELS W; GUNDERMANN S; PAULI W et al.1980; BEITR. PLASMAPHYS.; ISSN 0005-8025; DDR; DA. 1980; VOL. 20; NO 2; PP. 111-117; ABS. ENG; BIBL. 15 REF.Article

Breitflanschtraeger mit verbesserten Eigenschaften = Broad flanged beams with improved propertiesBARTELS, W; HARDT, R; SWAIN, R.C et al.1984, Vol 1, pp 31-38, issn 0340-8841Article

The perfection of Bridgman-grown Bi₄Ge₃O₁₂ crystalsVAN HOOF, L. A. H; BARTELS, W. J.Materials research bulletin. 1985, Vol 20, Num 1, pp 79-83, issn 0025-5408Article

X-ray diffraction of multilayers and superlatticesBARTELS, W. J; HORNSTRA, J; LOBEEK, D. J. W et al.Acta crystallographica. Section A, Foundations of crystallography. 1986, Vol 42, Num 6, pp 539-545, issn 0108-7673Article

Improved resolution of multilayer x-ray coatings: a distributed Fabry-Perot etalonBRUJIN, M. P; VERHOEVEN, J; VAN DER WIEL, M. J et al.Optical engineering (Bellingham. Print). 1987, Vol 26, Num 7, pp 679-684, issn 0091-3286Article