ATOMIC ABSORPTION SPECTROMETRIC METHODS FOR ANALYSIS OF HIGH-PURITY GALLIUM AND RHENIUM AND LAYERS OF DOPED SILICONYUDELEVICH IG; ZELENTSOVA LV; BEISEL NF et al.1979; ANAL. CHIM. ACTA; ISSN 0003-2670; NLD; DA. 1979; VOL. 108; PP. 45-52; BIBL. 5 REF.Article

UNTERSUCHUNGEN ZUR ATOMSPEKTROSKOPISCHEN SPWIENANALYSE IN A^III B^V HALBLEITERMIKROPROBEN. VI. UNTERSUCHUNGEN ZUR SCHICHTABTRENNUNG, PROFIL- UND SPURENANALYSE AN INSB-MATERIALIEN = ETUDE SUR L'ANALYSE DE TRACES PAR ABSORPTION ATOMIQUE DANS DES SEMICONDUCTEURS A^III B^V. VI. ETUDE SUR LA SEPARATION DES COUCHES, L'ANALYSE DES PROFILS ET DES TRACES DANS INSBSCHELPAKOWA IR; SCHTSCHERBAKOWA OI; JUDELEWITSCH IG et al.1982; TALANTA (OXF.); ISSN 0039-9140; GBR; DA. 1982; VOL. 29; NO 7; PP. 577-581; BIBL. 29 REF.Article