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UNTERSUCHUNGEN ZUR ERMITTLUNG DER URSACHEN DES AUSFALLS VON DIODEN IN EINEM SI-DIODEN-TARGET. = DETERMINATION DES CAUSES DES DEFAUTS DANS LES DIODES D'UNE CIBLE DE DIODES AU SILICIUMJAGER E; MORAWSKI D; EHWALD KE et al.1974; EXPER. TECH. PHYS.; DTSCH.; DA. 1974; VOL. 22; NO 5; PP. 457-462; ABS. ANGL.; BIBL. 1 REF.Article

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SUR L'EFFET DES REACTIONS EN PHASE GAZEUSE SUR LES CARACTERISTIQUES OPTIQUES D'UNE TORCHE LASER)VUL'FSON EK; KARYAKIN AV; YANUSHKEVICH AF et al.1976; ZH. PRIKL. SPEKTROSK., BELORUS. S.S.R.; S.S.S.R.; DA. 1976; VOL. 24; NO 1; PP. 13-17; BIBL. 12 REF.Article

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