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NEW APPLICATIONS OF THE KELVIN METHOD INVOLVING THE SCANNING OF THE BUCKING VOLTAGERITTY B; WACHTEL F; OTT F et al.1980; REV. SCI. INSTRUM.; ISSN 0034-6748; USA; DA. 1980; VOL. 51; NO 10; PP. 1421-1423; BIBL. 9 REF.Article

ETUDE DE L'APPLICATION DE LA METHODE DE KELVIN DE MESURE DE LA DIFFERENCE DE POTENTIEL DE CONTACT A LA CARACTERISATION ELECTRONIQUE DES SURFACES DE CONDUCTEURS ET DE SEMICONDUCTEURSRITTY BERNARD.1979; ; FRA; DA. 1979; 219 P.: ILL.; 30 CM; BIBL. 54 REF.; TH. 3E CYCLE: CHIM. PHYS./MULHOUSE-STRASBOURG 1/1979Thesis

CORRELATION ENTRE LES PROPRIETES ELECTROPHYSIQUES DU SYSTEME SI-SIO2 ET LA CINETIQUE DE LA CROISSANCE DE LA COUCHE D'OXYDE SUR LE SILICIUMARSLAMBEKOV VA; SAFAROV A.1980; MIKROELEKTRONIKA; SUN; DA. 1980; VOL. 9; NO 1; PP. 54-60; BIBL. 16 REF.Article

PIEZOELECTRIC DRIVEN KELVIN PROBE FOR CONTACT POTENTIAL DIFFERENCE STUDIES.BESOCKE K; BERGER S.1976; REV. SCI. INSTRUM.; U.S.A.; DA. 1976; VOL. 47; NO 7; PP. 840-842; BIBL. 10 REF.Article

MESURE DES VARIATIONS THERMOSTIMULEES D'UNE DIFFERENCE DE POTENTIEL DE CONTACTLYSENKO VS; TURCHANIKOV VI.1980; PRIB. TEH. EKSP.; ISSN 0032-8162; SUN; DA. 1980; NO 3; PP. 240-243; BIBL. 10 REF.Article

CONDITIONS NECESSARY TO GET MEANINGFUL MEASUREMENTS FROM THE KELVIN METHODRITTY B; WACHTEL F; MANQUENOUILLE R et al.1982; J. PHYS. E; ISSN 0022-3735; GBR; DA. 1982; VOL. 15; NO 3; PP. 310-317; BIBL. 22 REF.Article

NEW WAYS TO MEASURE THE WORK FUNCTION DIFFERENCE IN MOS STRUCTURESKRAWCZYK SK; PRZEWLOCKI HM; JAKUBOWSKI A et al.1982; REV. PHYS. APPL.; ISSN 0035-1687; FRA; DA. 1982; VOL. 17; NO 8; PP. 473-480; BIBL. 28 REF.Article

A CRYOSTAT FOR MEASURING CONTACT POTENTIAL DIFFERENCES.SHOTT M; WALTON AJ.1977; J. PHYS. E; G.B.; DA. 1977; VOL. 10; NO 3; PP. 226-228; BIBL. 9 REF.Article

THE WORK FUNCTION OF CARBURIZED RHENIUMPALLMER PG JR; GORDON RL; DRESSER MJ et al.1980; J. APPL. PHYS.; ISSN 0021-8979; USA; DA. 1980; VOL. 51; NO 7; PP. 3776-3779; BIBL. 22 REF.Article

MESURE SIMULTANEE DU POTENTIEL DE CONTACT ET DE LA CONDUCTIVITE D'UN SEMICONDUCTEURKALININ AN; VEDNYJ BI.1977; PRIBORY TEKH. EKSPER.; S.S.S.R.; DA. 1977; NO 1; PP. 242-243; BIBL. 7 REF.Article

NIVEAUX DE CONTACT A LA LIMITE DE 2 SOUS SYSTEMES IDEAUXDARBASYAN AT; KASAMANYAN ZA.1977; IZVEST. AKAD. NAUK ARM. S.S.R., FIZ.; S.S.S.R.; DA. 1977; VOL. 12; NO 1; PP. 75-77; ABS. ARM. ANGL.; BIBL. 4 REF.Article

MODIFICATION OF A ROTATING DYNAMIC CAPACITOR FOR CONTACT POTENTIAL DIFFERENCE MEASUREMENTSKURTEV I; KALITZOVA M; SIMOV S et al.1983; JOURNAL OF PHYSICS E: SCIENTIFIC INSTRUMENTS; ISSN 0022-3735; GBR; DA. 1983; VOL. 16; NO 7; PP. 594-595; BIBL. 8 REF.Article

DISPERSION RELATION APPROACH TO THE X-RAY EDGE PROBLEM = APPROCHE PAR LES RELATIONS DE DISPERSION DU PROBLEME DE LA LIMITE DES RAYONS XPENN DR; GIRVIN SM; MAHAN GD et al.1981; PHYS. REV. B; ISSN 0163-1829; USA; DA. 1981; VOL. 24; NO 12; PP. 6971-6983; BIBL. 20 REF.Article

MESURES DES TENSIONS DE CONTACT SUR DES STRUCTURES SEMICONDUCTEUR-ISOLANTBUCHHEIM G.1978; EXPER. TECH. PHYS.; DDR; DA. 1978; VOL. 26; NO 5; PP. 507-520; ABS. RUS/ENG; BIBL. 14 REF.Article

CINETIQUE D'ADSORPTION DE L'OXYGENE SUR LE DIOXYDE D'ETAIN PAR DES MESURES DU TRAVAIL DE SORTIE DES ELECTRONS ET PAR THERMOGRAVIMETRIE. II: PROPRIETES ELECTRONIQUES DE LA SURFACE DE SNO2. CINETIQUE DE FIXATION DE L'OXYGENELALAUZE R; COUPUT JP; PIJOLAT C et al.1982; J. CHIM. PHYS. PHYSICOCHIM. BIOL.; ISSN 0021-7689; FRA; DA. 1982; VOL. 79; NO 9; PP. 649-653; ABS. ENG; BIBL. 6 REF.Article

BESTIMMUNG DER AUSTRITTSARBEIT VON ELEKTRODEN MIT ADSORPTIONSSCHICHTEN DURCH KONTAKTPOTENTIALMESSUNG IN DAMPFATMOSPHAERE = DETERMINATION DU TRAVAIL DE SORTIE D'ELECTRODES AVEC COUCHES ADSORBEES EN MESURANT LES DIFFERENCES DE POTENTIEL DE CONTACT SOUS ATMOSPHERE DE VAPEURVON BRADKE M.1979; D.F.V. L.R. FORSCH.-BER.; DEU; DA. 1979; NO 79-22; 205 P.; ABS. ENG; BIBL. 112 REF.Article

THERMALLY STIMULATED CONTACT POTENTIAL DIFFERENCE AS A POSSIBILITY TO DETERMINE THE ENERGY POSITION OF SEMICONDUCTOR SURFACE LEVELSVAVREK A; SIMOV S; KALITZOVA M et al.1979; SURF. SCI.; ISSN 0039-6028; NLD; DA. 1979; VOL. 87; NO 1; PP. 152-160; BIBL. 22 REF.Article

MANIPULATEUR POUR LA MESURE DE LA D.D.P DE CONTACT PAR LA METHODE DE KELVINKOROTKIKH VL; KORINFSKIJ AD; MUSATOV AL et al.1977; PRIBORY TEKH. EKSPER.; S.S.S.R.; DA. 1977; NO 2; PP. 211-212; BIBL. 3 REF.Article

INSTALLATION POUR LA MESURE DU TRAVAIL DE SORTIE DES ELECTRONS D'UN METAL PAR LA METHODE DU CONDENSATEUR DYNAMIQUEBACHYN'SKI YA; MALEHTSKI KH; STEMPIN'SKI M et al.1979; PRIB. TEH. EKSP.; ISSN 0032-8162; SUN; DA. 1979; NO 4; PP. 205-206; BIBL. 3 REF.Article

LA SONDE ELECTRIQUE DE PLASMA EN TANT QU'ANALOGUE PHYSIQUE DE LA MEMBRANE DU NEURONEVEJNGER AI.1979; Z. TEH. FIZ.; ISSN 0044-4642; SUN; DA. 1979; VOL. 49; NO 8; PP. 1623-1629; BIBL. 8 REF.Article

CONTACT POTENTIAL OF P-A10.5 GA0.5 AS/N-GAAS STRUCTURES.MORKOC H; BANDY SC; ANTYPAS GA et al.1978; SOLID-STATE ELECTRON.; GBR; DA. 1978; VOL. 21; NO 4; PP. 663-664; BIBL. 4 REF.Article

PRECISE DIODE METHOD FOR RECORDING CONTACT POTENTIAL CHANGES CAUSED BY GAS ADSORPTIONCHRISTMANN K; HERTZ H.1979; REV. SCI. INSTRUM.; ISSN 0034-6748; USA; DA. 1979; VOL. 50; NO 8; PP. 988-992; BIBL. 12 REF.Article

MESURE DE LA DIFFERENCE DE POTENTIEL DE CONTACT DE STRUCTURES MDS EN COINVIRTMANIS AS; FELTYN IA; FREJBERGA LA et al.1977; LATV. P.S.R. ZINAT. AKAD. VEST., FIZ. TEH. ZINAT. SER.; S.S.S.R.; DA. 1977; NO 4; PP. 9-14; ABS. ANGL.; BIBL. 7 REF.Article

SURFACE EFFECTS IN METALLIC FERROMAGNETIC FILMSVALENTA L; WOJTCZAK L.1980; CZECH. J. PHYS., B; CSK; DA. 1980-09; VOL. 30; NO 9; PP. 1025-1038; BIBL. 30 REF.Article

VARIATIONS DU POTENTIEL DE CONTACT DE COUCHES AMORPHES DE AS2SE3 DUES A LA LUMIEREDOKUCHAEV AB; KATUNIN BD; STRAKHOV LP et al.1979; FIZ. TEKH. POLUPROVODN.; SUN; DA. 1979; VOL. 13; NO 6; PP. 1165-1168; BIBL. 15 REF.Article

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